17ème Congrès international de métrologie, du 21 au 24 septembre 2015

Le Congrès international de métrologie se tiendra du 21 au 24 septembre 2015 à Paris-Porte de Versailles. Organisé conjointement avec Enova, le salon des technologies de l’électronique, mesure, vision et optique, le CIM est le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires.

Unique en Europe, ce congrès présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie. Il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.

Les thématiques fortes du CIM sont présentes dans les 6 tables rondes industrielles de l’événement :

– Les bonnes pratiques en santé
– Transition énergétique : la métrologie relève le défi
– L’analyse sensorielle au service de la métrologie
– Externaliser la fonction métrologie : rêve ou réalité ?
– Agro-alimentaire : le plus métrologique
– Mesure et maîtrise des risques : nouvelle approche ISO 9001

Près de 180 conférences seront présentées sur des sujets très variés. Les grands domaines techniques sont abordés : mécanique, température, dimensionnel et 3D, débit, électricité, optique… Les rappels plus généraux comme les incertitudes de mesure, l’apport des statistiques, le SI (…) ne sont pas oubliés. Les nouvelles préoccupations sont également présentes : la sécurité dans le secteur médical et l’agro-alimentaire, les défis liés à la transition énergétique, les nanotechnologies… Pour compléter ce panel, des visites techniques à l’Observatoire de Paris, chez Sopemea et au LNE sont organisées. 

Les temps forts du CIM 2015

– L’animation quotidienne sur le Village Métrologie : sur cet espace ouvert à tous se retrouvent les visiteurs du salon, les exposants qui souhaitent se rapprocher du Congrès et les participants inscrits au CIM.

– La session d’ouverture du 21 septembre avec deux interventions sur des sujets émergeants en métrologie :

o La métrologie dans les services par le groupe La Poste
o Métrologie et criminalistique par la Police Judiciaire de la Gendarmerie Nationale

– La conférence plénière du 23 septembre « Métrologie 4.0 » avec des interventions des plus grands organismes mondiaux de métrologie – le NIST américain, le NPL anglais et la PTB allemande – sur la métrologie de demain qui pointe déjà son nez dans notre quotidien …

– L’intervention de Claude Cohen Tannoudji, Prix Nobel de Physique 1997, lors de la session de Clôture du jeudi 24 septembre après-midi

Source : https://www.metrologie2015.com