JT CFM en partenariat avec le LNE – IA, Digitalisation et métrologie

« Machine learning, deep learning, intelligence artificielle, digitalisation des données et des outils, autant de concepts qui s’installent dans notre quotidien tout en paraissant éloignés des activités propres à la métrologie. Et pourtant ! Le Laboratoire National de Métrologie et d’Essais et le Collège Français de Métrologie vous proposent dans une collaboration inédite une Journée Technique pour comprendre les liens entre IA, digitalisation et métrologie.