JT CFM – Enjeux métrologiques des mesures dimensionnelles
De nombreuses technologies de mesure permettent de déterminer les dimensions d’une pièce : des technologies de mesure manuelles telles que le pied à coulisse, ou aussi le micromètre aux mesures tridimensionnelles par machine à mesurer intégrant des logiciels de calculs complexes. Chaque technologie répond à un besoin de mesure spécifique qui demande à l’utilisateur de bien définir ses spécifications (étendue de mesure, justesse, facilité d’utilisation…).
En parallèle, pour pouvoir assurer la fiabilité et la conformité des résultats de mesure délivrés, il faut définir un plan de suivi métrologique de l’équipement de mesure en choisissant les opérations, étalonnage, vérification, surveillance, les plus adaptées à l’utilisation faite.
Cette Journée Technique a vocation à vous donner une vue d’ensemble des enjeux métrologiques des mesures dimensionnelles. Nos experts balayeront les concepts métrologiques clés tout en vous présentant les dernières innovations technologiques et normatives. Un focus particulier sera fait sur les mesures tridimensionnelles et sur les mesures d’état de surface 3D.
La journée s’adresse à toutes personnes du domaine dimensionnel qui souhaitent découvrir de nouvelles méthodes, maintenir des connaissances et partager des bonnes pratiques avec d’autres utilisateurs. »
Date : 17 juin 2025 de 9h30 à 17h
Lieu : Espaces Diderot, 10 rue de la Traversière, 75012 PARIS
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