Bruker alicona dote le Cetim d’un nouveau moyen de mesure pour son site de Senlis

Le laboratoire de métrologie dimensionnelle du Cetim basé à Senlis dispose désormais d’un système de métrologie 3D optique InfiniteFocusG5 AdvancedReal3D de chez Bruker Alicona. Avec ce nouveau système de métrologie 3D optique, le Cetim, Centre Technique des Industries Mécaniques, enrichit le parc machine de son site de Senlis, permettant de répondre à ses besoins internes et à ceux des industriels de la moitié nord de la France. L’InfiniteFocusG5, système de métrologie par Variation Focale d’une grande polyvalence, permet de réaliser des mesures 3D de forme à très forte résolution sur des micro-géométries comportant des tolérances très serrées, mais également des mesures de rugosité 2D et 3D dans des zones difficiles d’accès pour les palpeurs à contact.
La Variation Focale
La Variation Focale combine la faible profondeur de champ d’un système optique et son balayage vertical, afin de fournir une information de topographie en couleurs réelles à partir de la variation de netteté des images sur le capteur. Contrairement aux autres technologies optiques plus traditionnelles, qui sont limitées à l’éclairage coaxial, la pente maximale mesurable ne dépend pas seulement de l’ouverture numérique de l’objectif utilisé. La Variation Focale peut être utilisée avec une large gamme de sources lumineuses différentes (tel qu’un éclairage annulaire) qui permet la mesure d’angles de plus de 87° sur les pentes. La Variation Focale est utilisable sur des surfaces présentant une grande gamme de réflectances optiques différentes, ce qui représente un atout majeur pour la mesure des pièces aux géométries complexes.
Du détail dans les mesures
Avec des fichiers de données 3D pouvant comporter jusqu’à 500 millions de points, les systèmes Alicona sont capables de fournir des fichiers de mesure comportant une quantité impressionnante de détails. La grande densité de points de la Variation Focale permet aux opérateurs d’obtenir systématiquement des résolutions verticale et latérale très fines, même sur des volumes de mesure importants, rendant possible l’obtention de mesures raccordées sur des rayons de faible dimension, des angles et des rugosités localisés sur des zones difficiles d’accès.
Source : https://www.bruker.com/
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