Comprendre et pratiquer lors des Journées de la Mesure, les 16 et 17 juin 2020 (Web-conférence)

Organisées par le Collège français de métrologie, les JM 2020 se dérouleront par Web-conférence les 16 et 17 juin. Initialement prévues pour se dérouler à Lyon, ces journées aborderont la mesure au plus près des besoins avec des bonnes pratiques présentées lors de tutoriels et des mises en application en ateliers.
Le déroulé des journées a été revue par rapport aux éditions précédentes : le premier jour est consacré aux bases de la métrologie et aux incertitudes de mesure, tandis que le second sera décliné dans trois directions : le dimensionnel, les laboratoires et le climatique. Les secteurs applicatifs concernés sont vastes : la mécanique, le pharmaceutique, l’agro-alimentaire, la biologie, l’environnement … Les responsables et techniciens de laboratoire, les responsables qualité et responsable du processus métrologie se retrouveront dans les contenus.
Programme détaillé
- Les Fondamentaux et principes sur les normes générales et les périodicités d’étalonnage …
- Les méthodes d’évaluation et d’optimisation des Incertitudes avec études de cas en dimensionnel et thermométrie …
- Les États de surface : revue des technologies et applications, ateliers sur la technologie confocale
- Les Mesures 3D : évaluation des incertitudes, méthodes et optimisation, maîtrise et vérification
- des équipements …
- La pH-métrie : concepts généraux, bonnes pratiques, étalonnage par MRC sous accréditation …
- Les Balances : facteurs d’influence d’une pesée et étalonnage …
- Les Températures : technologies, mise en œuvre d’un capteur, mesure de température d’un fluide en mouvement …
- Humidité : technologies, étalonnage des hygromètres, vérification et mise en oeuvre de solutions
Les sponsors seront sur place pour présenter leurs solutions et participer aux échanges : le Cetiat, CMI, CTS, le CT2M, E+E Elektronik, Implex, Kreon technologies, Manumesure, Polyworks, Sartorius, Sika, STIL-Marposs, Trescal.
Source : https://www.cfmetrologie.com/fr/
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