17ème Congrès international de métrologie, du 21 au 24 septembre 2015
Le Congrès international de métrologie se tiendra du 21 au 24 septembre 2015 à Paris-Porte de Versailles. Organisé conjointement avec Enova, le salon des technologies de l’électronique, mesure, vision et optique, le CIM est le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, […]
