Métrologie : partenariat entre Artec 3D et Zeiss
Le développeur de matériel et de logiciels de scan 3D professionnels a lancé un partenariat de grande envergure avec le leader de l’optique et de l’optoélectronique Zeiss.
Ensemble, les deux leaders de la capture de données 3D proposent une gamme de nouveaux outils de métrologie aux utilisateurs les plus expérimentés dans le domaine du scan 3D. Grâce à une solution d’inspection combinée, les ingénieurs pourront relever des défis plus complexes dans les secteurs de l’industrie, de l’automobile, de l’aérospatiale, etc.
Parallèlement à Zeiss, Artec 3D continue d’élargir son offre, de manière à améliorer considérablement l’expérience de ses clients. L’association du logiciel Zeiss et du logiciel Artec Studio permet aux utilisateurs de corriger les écarts plus rapidement, d’automatiser, d’augmenter la productivité et d’établir de nouvelles normes en matière d’inspection.
Offrir aux utilisateurs confirmés davantage d’options pour les tâches complexes
Art Yukhin, président-directeur général d’Artec 3D, est convaincu que ce partenariat sera source d’opportunités pour les deux parties. « Artec3D est heureux de s’associer à Zeiss, un autre leader de l’industrie ; ce partenariat va nous permettre d’offrir à nos utilisateurs confirmés davantage d’options pour les tâches complexes. Nous sommes impatients d’entamer cette coopération et de voir ce que nous pourrons accomplir. »
Pour commencer, cette collaboration se concentrera sur Zeiss Inspect Optical 3D et Zeiss Reverse Engineering. Une solution pour passer rapidement du scan à la CAO et s’assurer que les produits répondent aux normes, ces logiciels sont désormais disponibles directement auprès d’Artec 3D, et personnalisables avec les applications Airfoil et Tool Correction de Zeiss.
Marc Wawerla, PDG de Zeiss Industrial Quality Solutions, a indiqué : « Nous sommes ravis de nous associer à Artec3D pour permettre aux clients de toutes les industries de bénéficier de notre expertise de pointe en matière de logiciels de métrologie.»
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