Data et IA : quel levier de croissance pour les PME ?

L’exploitation de la Data associée à l’intelligence artificielle peut représenter une source d’innovation en matière de production. Les entreprises, grandes ou moyennes, ainsi que les start-up qui sont plus que jamais concernées par cette nouvelle technologie.
Intervenants : Jean-Baptiste Benard (conseiller Industrie, CCI de Maine et Loire) et Pierre Girardeau (Data Scientist & Associé, Cross Data)
Rendez-vous à NI Days pour découvrir le futur des technologies de test
NI (National Instruments) signe le retour de la conférence NI Days. Celle-ci aura lieu au NEWCAP Event Center à Paris, le 19 juin pochain. Cet événement réunit des leaders et des experts du secteur pour relever les défis critiques en matière de tests automatiques, d’optimisation des systèmes et d’acquisition de données. À ne pas manquer […]
Metrologic Group et Metromecánica nouent un partenariat dans l’inspection
Metrologic Group, éditeur de logiciels spécialisé dans la métrologie 3D et le contrôle qualité, a signé un accord de partenariat avec Metromecánica, intégrateur espagnol disposant d’une forte expertise et grande expérience dans la mesure robotique. La solide expertise de Metromecánica en matière d’inspection robotique et d’automatisation, associée aux solutions logicielles universelles de Metrologic Group, lui […]
INVITATION | Forum Teratec 2025 – Le rendez-vous des experts du supercomputing
Le Forum Teratec revient en 2025 avec une question centrale : comment l’Europe peut-elle garder la main sur le HPC, l’IA et le quantique ? Experts, chercheurs et industriels y partageront visions, innovations et solutions concrètes pour relever les grands défis technologiques. Au programme : keynotes, ateliers immersifs, pitchs de startups et focus sur des […]
La revue

DOSSIER : Spécial Forum Teratec 2025
Comment la technologie quantique répond aux enjeux de simulation
ESSAIS ET MODÉLISATION : Vers des essais dans l’électronique toujours plus précis
MESURES & CONTRÔLE QUALITÉ : L’IoT, élément incontournable pour une métrologie de pointe
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