JT CFM – LNE : IA, digitalisation & métrologie
« Machine learning, deep learning, intelligence artificielle, digitalisation des données et des outils, autant de concepts qui s’installent dans notre quotidien tout en paraissant éloignés des activités propres à la métrologie. Et pourtant ! Le Laboratoire National de Métrologie et d’Essais et le Collège Français de Métrologie vous proposent dans une collaboration inédite une Journée […]
